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            偏光顯微鏡在裝置上的要求

             發布時間:2017-04-20 點擊量:2099
               偏光顯微鏡在裝置上的要求
              偏光顯微鏡是對具有雙折射性的晶體進行研究的*儀器,在地質、化工、紡織和衛生部門中,用于分析巖礦,研究晶體,纖維的光學性質,另外,偏光顯微鏡還能供大專院校師生作教學、實驗之用。
              偏光顯微是鑒定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡。凡具有雙折射性的物質,在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當然這些物質也可用染色法來進行觀察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。偏光顯微鏡的特點就是將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法,以鑒別某一物質是單折射性(各向同性)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特征。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物、化學等領域。在生物學中,很多結構也具有雙折射性,這就需要利用偏光顯微鏡加以區分。在植物學方面,如鑒別纖維、染色體、紡錘絲、淀粉粒、細胞壁以及細胞質與組織中是否含有晶體等。在植物病理上,病菌的入侵,常引起組織內化學性質的改變,可以偏光顯微術進行鑒別。在人體及動物學方面,常利用偏光顯微術來鑒別骨骷、牙齒、膽固醇、神經纖維、腫瘤細胞、橫紋肌和毛發等。
              偏光顯微鏡檢術的要求:
              (一)光軸與載物臺通光中心必須在一直線上,否則旋轉物臺時,被檢物體就偏離視場中心,甚至移到視場之外,而影響偏光顯微鏡鏡檢。
              (二)起偏鏡和檢偏鏡均標有振動方向的符號,當處于正交狀態時,習慣上通常使起偏鏡的振動方向與目鏡內十字線的橫線一致,而檢偏鏡的振動方向與十字線的給縱線一致。
              (三)制片不宜過薄,否則微弱的雙折射性就易消失。同時應先以新鮮狀態進行觀察(不然常由于固定、染色等步驟的處理,而使雙折射性加強或消失),然后再對照進行觀察。
              偏光顯微鏡在裝置上的某些要求:
              (一)光源:偏光顯微鏡采用單色光,因光的速度、折射率、吸收和干涉現象由于波長的不同而有差異。一般鏡檢可使用普通光。
              (二)載物臺:為圓形,要用可以調節中心且邊緣刻有角度(360°)能旋轉的載物臺。
              (三)和鏡:應使用無應消色差物鏡,因復消色差和半復消色差物鏡本身常發生偏振光。
              (四)目鏡:要帶有十字線鏡。
              (五)聚光鏡:為了取得平行偏光,偏光顯微鏡應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。
              (六)補償片:作精細偏光鏡檢時,尚需利用補償片,有石膏、云母及石英補償片等。

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